کاليبراسيون اسپکترومترهای اوژه و فوتوالكترون اشعه ايكس
چکيده:
اسپكتروسكوپي
الكترون اوژه (AES) و فوتوالكترون اشعه ايكس(XPS) دو روش عمومي
براي تعيين عناصر و حالتهاي شيميايي موجود در nm 5 سطح نمونههاي
جامد هستند، يعني ده تا بیست لايه اتمي. از تركيب اين دو روش با
اسپاترينگ باريكه يوني تحليل عمقي تا حدود یک ميكرون قابل انجام
است كه اينها را تبديل به روشهاي كارآمدتري به ويژه در تحقيقات
نانوالكترونيك، شيمي، بيومواد و نانوبيومواد، خوردگي و چسبندگي
كرده است. كاليبراسيون اين دستگاه از اهميت ويژه اي برخوردار است
زيرا براي تحليل كيفي و كمي صحيح بايد داده هاي كاليبره شده مورد
استفاده قرار گيرند.
جهت
مشاهده بهتر فايلهاي PDF روي
عنوان زير Right
Click نموده،
سپس با انتخاب گزينه Save
Target As فايل
را روي كامپيوتر ذخيره كرده و مشاهده نماييد.
Download
نقل از آزمایشگاه نانو
نويسنده : مهدي
رنجبر
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25
26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40
آخرین
مقالات |