دید کلی
اصولاً اتصالات نیم
رسانا - فلز جزو
لازمه تمامی قطعات
الکترونیکی اند.
چگونگی و رفتار اتصالات
الکتریکی به
غلظت سطح نیم رسانا (Si) ،
تمیزی سطح و واکنش های بین فصل مشترک فلز - نیم رسانا بستگی دارد.
بعد از ابداع ترانزیستور توسط جان
باردین ،
مفهوم و اهمیت مدارهای
مجتمع روشن شد.
پس از آن موفقیت بزرگ تجمع و اتصال
تعداد بسیار زیادی از قطعات کوچک و اجزای
الکترونیکی بر
سطح زیر لایه تحول عظیمی در ساخت عملی مدارهای مجتمع بوجود آورد.
با ابداع و رشد فناوری
مینیاتور کردن قطعات الکترونیکی بشر
به یکی از مهمترین دستاوردهای خود در قرن گذشته نائل آمد.
سیر تکاملی و رشد
با گسترش ، طراحی و
ساخت مدارهای مجتمع به ویژه افزایش انباشت قطعات در مقیاس خیلی
بزرگ در دهه 1980 تلاش برای کوچکتر کردن قطعات
میکرو الکترونیکی ادامه
یافت. از طرف دیگر تقاضای جدید برای ساخت مدارهای مجتمع به ویژه مدارهای
حافظه شاملحافظه
دینامیکی (DRAM) و حافظه
استاتیکی (SRAM) با
ویژگی هایی نظیر سرعت عمل بالا توأم با کاهش اتلاف
توان روزبه
روز بیشتر شد.
در روند
تکاملی فناوری
فرامینیاتور کردن قطعات الکترونیکی بویژه
در هندسه و
مقیاس زیر میکرونی کمتر از 0.2 میکرو متر یعنی حوزه فناوری طراحی
قطعات نانو الکترونی و فناوری
ساخت مدارهای مجتمع از
پیچیدگی خاصی برخوردار است.
بطور متوسط در
هر شش سال ابعاد و اندازه قطعات الکترونیکی به نصف تقلیل یافته
است.
امروزه با استفاده از مزیت های مجتمع سازی کوچکی قطعات ، بطور مشخص فناوری
نانو الکترونیک ساختار
این گونه مدارهای مجتمع گسترده تر و پیچیده تر است. بطوری که این
مدارها از ده ها میلیون ترانزیستور ، دیود ، مقاومت
الکتریکی و خازن تشکیل شده
است.
عرض خطوط اتصالات بین قطعات مختلف در سال 2000 میلادی 0.18
میکرومتر بود، که کاهش آن همچنان ادامه دارد. در راستای پیشرفت این
فناوری ، در همین سال مجموع فروش مدارهای مجتمع در دنیا حدود 150
میلیارد دلار بر آورد شده است. به این دلیل پیچیدگی و ویژگیهای خاص
مدارهای مجتمع با ساختار
نانومتری بکار
گیری مواد جدید و فرآیند های بهتر تولید و همچنین استفاده روشهای
دقیقتر ساخت.
مشخصه یابی لایه
نازک قطعات الکترونیکی
مشخصه یابی لایه
نازک قطعات مختلف امری الزامی است. بعضی از فرایندهای مهم ساخت
مدارهای مجتمع عبارت اند از
که در فناوری
نانو الکترونیک برای
انجام این گونه فرآیند ها باید از پارامترها و سیستمهای خاص
استفاده کرد. مثلاً در فرایند فلز نشانی استفاده از فلز مس به
جای فلز رایج آلومینیوم برای
اتصالات درونی بین قطعات مختلف عملی اجتناب ناپذیر است.
اما نفوذ سریع اتمهای Cu در
زیر Si در عملیات
حرارتی منجر
به تشکیل لایه
سلیساید مس و
در نهایت سبب تخریب قطعه الکترونیکی می شود. برای رفع این مشکل
معمولاً از یک لایه میانی از مواد دیرگذار مانند Ta
و w یا Mo به
عنوان سد نفوذیبرای بهبود پایداری حرارتی لایه Cu
/ Si استفاده
می کنند.
ساخت و مشخصه یابی
سیستم های چند لایه ای
مشخصه یابی سیستم
های چند لایه ای Cu
/ Ta /Si اخیراً
مورد مطالعه قرار گرفته است. در این زمینه تاثیر ولتاژ
بایاس منفی بر
بهبود خواص الکتریکی و ساختاری سد
نفوذی لایه اسپاترنیگ Ta در
سیستم Ta/Si گزارش
شده است.
همچنین در فناوری طراحی
قطعات نانو الکترونی با
استفاده ار میکروسکوب
نیروی اتمی (AFM) و ساخت
لایه های نازک مورد
نیاز در مدارهای مجتمع مذکور فقط در محیط های تعریف شده توسط روش
های دقیق لایه نشانی نظیر لایه
نشانی با باریکه مولکولی (MBE) و لایه
نشانی با بخار شیمیایی مواد آلی فلزی (MOCVD) امکان
پذیر است.
وسعت فناوری نانو
الکترونیک:
در فناوری نانو
الکترونیک فرایندهایی سطح زیر لایه Si از جمله سوزش توسط فناوری
پلاسما و باریکه
یونی صورت می
گیرد. این گونه مدارهای مجتمع با ویژگی های منحصر به فرد خود در
مقیاس نانومتری کاربردهای متنوعی از سیستم
های مزوسکوپیک دارند.
بعضی از این کاربردها عبارت اند از:
دانشنامه رشد
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25
26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40
آخرین
مقالات |